| هفته نامه اطلاع رسانی اختراعات منتشر شده در سازمان جهانی مالکیت فکری | ||
| invbazaar.com |
| سال | هفته | ID | Title | ApplNo | IPC | Applicant | Subgroup | زیر گروه | رشته | شرح | Description | 2025 | 52 | WO/2025/263097 | SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD | JP2025/015059 | G01Q 20/02 | SHIMADZU CORPORATION | PHYSICS | فیزیک | ابزارها |
|---|